鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法之零點(diǎn)校準(zhǔn)與二點(diǎn)校準(zhǔn) |
點(diǎn)擊次數(shù):1555 更新時(shí)間:2018-12-24 |
鍍層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)方法有多種: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。這其中以零點(diǎn)校準(zhǔn)與二點(diǎn)校準(zhǔn)較為常用。 二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。 鍍層測(cè)厚儀零點(diǎn)校準(zhǔn) 將探頭穩(wěn)壓在空基體上不放開(kāi),再按住校零鍵,此時(shí)會(huì)有蜂鳴省 聲,帶顯示屏上顯示CAL后,再提起探頭,校零成功,再將儀器拿 去測(cè)試工件即可 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×.×μm>。 a) 按ZERO 鍵,屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成,可以開(kāi)始測(cè)量了。 b) 重復(fù)上述a、b 步驟可獲得更為的零點(diǎn),高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。 鍍層測(cè)厚儀二點(diǎn)校準(zhǔn) 先校準(zhǔn)零位,校好零位后,根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度,選擇一片比 較接近工件涂層厚度值的標(biāo)準(zhǔn)膜片,把膜片放在空基體上,將探頭 穩(wěn)壓下去測(cè)量,如果測(cè)量出來(lái)的值與膜片有小誤差,提起探頭后 通過(guò)“+”“-”按鍵進(jìn)行修正。 一試片法 這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。 a) 先校零點(diǎn)(如上述)。 b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×××μm>。 c) 用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開(kāi)始測(cè)量了。 注意:1.即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符,按↑、↓鍵也是*的,例如按一次↑一次↓。 這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。 2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn),可重復(fù)b、c 過(guò)程,以提高校準(zhǔn)的精度,減少偶然誤差。 二試片法 兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。 a) 先校零值; b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值; c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量,用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成,可以開(kāi)始測(cè)量了。 |