福祿克紅外熱像儀-預(yù)防電氣設(shè)備和線路的熱缺陷故障有保障 |
點(diǎn)擊次數(shù):1150 更新時(shí)間:2019-10-28 |
在電力行業(yè),很早就將福祿克紅外熱像儀運(yùn)用于設(shè)備的安全檢修上,通過(guò)其對(duì)電氣設(shè)備和線路的熱缺陷進(jìn)行探測(cè),這對(duì)于及時(shí)發(fā)現(xiàn)、處理、預(yù)防重大事故的發(fā)生可以起到非常關(guān)鍵而有效的作用。 所謂電氣設(shè)備熱缺陷,通常是指通過(guò)一定手段檢測(cè)得到,由于其內(nèi)在或外在原因所造成的的發(fā)熱現(xiàn)象。 根據(jù)缺陷所產(chǎn)生的原因不同,我們通常歸納為3種:一種是長(zhǎng)期暴露在空氣中的部件,由于溫度濕度的影響,或表面結(jié)垢而引起的接觸不良,或由于外力作用所引起的部件損傷,因而使得的導(dǎo)電截面積減少而產(chǎn)生的發(fā)熱。如接頭連接不良,螺栓,墊圈未壓緊;長(zhǎng)期運(yùn)行腐蝕氧化;大氣中的活性氣體、灰塵引起的腐蝕;元器件材質(zhì)不良,加工安裝工藝不好造成導(dǎo)體損傷;機(jī)械振動(dòng)等各種原因所造成的導(dǎo)體實(shí)際截面降低;負(fù)荷電流不穩(wěn)或超標(biāo)等。 另一類是由于電器內(nèi)部本身故障,如內(nèi)部連接部件接觸不良導(dǎo)致的電阻過(guò)大;絕緣材料老化、開(kāi)裂、脫落;內(nèi)部元件受潮,元?dú)饧p耗增大;冷卻介質(zhì)管路阻塞等等。 對(duì)于那些可以直接觀察到的設(shè)備及元?dú)饧t外熱像儀都能夠發(fā)現(xiàn)所有連接點(diǎn)的熱隱患。對(duì)于那些由于被遮擋而無(wú)法直接看到的部分,則可以根據(jù)其熱量傳遞到外面部件上的情況加以分析,從而得出結(jié)論。由于現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)際情況千變?nèi)f化,即便你通過(guò)熱像儀得到了一張有熱點(diǎn)的圖片,要想作出一個(gè)的判斷,可能會(huì)受許多因素的影響。如當(dāng)前的溫度,風(fēng)量,負(fù)荷等情況。我們可以根據(jù)不同的特點(diǎn),作相關(guān)的分析,作出相應(yīng)的判斷如: 為保證電力生產(chǎn)安全運(yùn)行,對(duì)電力設(shè)備狀態(tài)檢修提出了更高的要求。由于狀態(tài)檢修主要依賴于對(duì)運(yùn)行中設(shè)備的狀態(tài)檢測(cè)以及在線監(jiān)測(cè)手段,所以,電力設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)檢測(cè)和在線監(jiān)測(cè)在電力安全生產(chǎn)中始終起著重要的作用。 紅外成像技術(shù)作為一門新技術(shù),在電力設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)檢測(cè)中有著無(wú)比的*性。紅外成像是以設(shè)備的熱狀態(tài)分布為依據(jù)對(duì)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)良好與否進(jìn)行診斷,它具有不停運(yùn)、不接觸、遠(yuǎn)距離、快速、直觀地對(duì)設(shè)備的熱狀態(tài)進(jìn)行成像。由于設(shè)備的熱像圖是設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下熱狀態(tài)及其溫度分布的真實(shí)描寫,而電力設(shè)備在運(yùn)行狀態(tài)下的熱分布正常與否是判斷設(shè)備狀態(tài)良好與否的一個(gè)重要特征,因而。采用福祿克紅外熱像儀可以通過(guò)對(duì)設(shè)備熱像圖的分析來(lái)診斷設(shè)備的狀態(tài)及其隱患缺陷。 |