Renishaw TP200--英國雷尼紹三坐標測頭
TP200
具有模塊交換功能的超小型測頭,它使用應(yīng)變片機構(gòu),比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高
TP200系統(tǒng)組件包括:
TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動公差)
TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力:SF(標準測力)或LF(低測力)
PI 200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊(擴展越程),越程測力與SF相同,但工作范圍更大,并在測頭Z軸方向提供保護。
上海篤摯儀器代理供應(yīng)雷尼紹坐標測量機和機床測頭測針,用于高精度線性、角度和旋轉(zhuǎn)位置反饋的編碼器系統(tǒng)和用于數(shù)控機床工件找正、對刀及檢測的測頭系統(tǒng)和軟件等,如果您對型號有疑問或者無法確定,歡迎在線交流或留言。
特性與優(yōu)點:
應(yīng)變片技術(shù)具備優(yōu)異的測量重復性和準確的3D空間形狀測量精度
零復位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100 mm(GF測針)
測頭模塊快速交換,無需重新標定測尖
壽命 >1000萬次觸發(fā)
TP200/TP200B測頭本體
TP200 / TP200B測頭本體:
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和準確的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性,并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針
TP200測針模塊:
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭越程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測力。
模塊 | SF(標準測力) | LF(低測力) | EO(長越程) |
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應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外越程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的越程測力相同。 測頭Z軸的額外越程為8 mm。 |
SCR200交換架:
SCR200可以高速自動交換多達六個TP200測針模塊。SCR200由獨立的測頭接口 — PI 200-3供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件,每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。