鐵素體檢測儀fmp30的使用說明
FERITSCOPERFMP30用于確定奧氏體和雙相鋼的鐵素體含量,并確定奧氏體材料中變形馬氏體的比例。
儲(chǔ)存和運(yùn)輸以及校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
使用基礎(chǔ)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)(鐵氧體標(biāo)準(zhǔn)品)對儀器進(jìn)行歸一化和校準(zhǔn)。
正確的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)條件是正確校準(zhǔn)并因此進(jìn)行正確測量的重要先決條件。
請遵守以下內(nèi)容以確保校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的正確條件:
為了在接觸測量期間將底座和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件的磨損降至*低,請僅將它們用于校準(zhǔn),而不用于測試測量!
不要弄臟或刮擦校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)!
用未損壞的干凈標(biāo)準(zhǔn)物替換腐蝕或刮傷的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)物或帶有強(qiáng)凹痕的標(biāo)準(zhǔn)物。
為防止校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品弄臟或損壞,請將其保存在隨附的包裝盒中以進(jìn)行運(yùn)輸和存儲(chǔ)。
鐵素體檢測儀fmp30的使用說明DEL鍵功能說明:
選出最后測得的讀數(shù)
重復(fù)按DEL:連續(xù)刪除openblock的讀數(shù)。
2 x DEL:在標(biāo)準(zhǔn)化過程中刪除所有讀數(shù):
1x DEL-刪除最后一個(gè)讀數(shù),
2x DEL-刪除基礎(chǔ)材料的測量系列。在校準(zhǔn)期間:
1x DEL-刪除最后一個(gè)讀數(shù),
2x DEL-刪除當(dāng)前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測量系列。
重復(fù)按DEL鍵:刪除先前校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的測量系列。
..在所有菜單中:
DEL-返回上一級菜單或取消該過程。
所有可以連接到儀器的探頭在其連接器插頭中均配有一個(gè)存儲(chǔ)芯片,即所謂的EEPROM。 特定于探針的信息(例如,探針類型,生產(chǎn)編號,測量方法或主特性系數(shù))被**存儲(chǔ)(即使沒有電源)在該存儲(chǔ)芯片中,該信息可能會(huì)被覆蓋多次 如預(yù)期的。接通儀器電源時(shí),該信息將由儀器自動(dòng)檢索和處理。 儀器“識別"連接的探頭。僅當(dāng)使用分配給打開的應(yīng)用程序的探針進(jìn)行測量時(shí),才能執(zhí)行正確的測量。
各種探針模型可用于對具有不同形狀和不同表面特性的物體進(jìn)行測量。 具有不同測量范圍的特殊探頭可用于以下應(yīng)用領(lǐng)域,例如:
特別粗糙或磨蝕的表面
特別柔軟的表面
表面受潮濕,酸性污染,特別是厚涂層或薄涂層
熱表面
管道和鉆孔中的涂層
有關(guān)可用的探頭型號和適合您的應(yīng)用的探頭型號,請參見手冊“測量探頭和測量輔助工具-優(yōu)化的探頭3"。相應(yīng)的探頭數(shù)據(jù)表。您可以從Helmut Fischer GmbH或授權(quán)的供應(yīng)商處獲得此手冊。
校準(zhǔn)/標(biāo)準(zhǔn)片
1. 為了獲得可以比較的結(jié)果,儀器必須用可以追溯到國際上接受的二級標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。
2. 為此,IIW(英國國際焊接協(xié)會(huì))發(fā)展了二級標(biāo)準(zhǔn)片,根據(jù)DIN EN ISO8249標(biāo)準(zhǔn)和ANSI/AWS A4.2標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法制造。
3. Helmut Fischer提供鑒定過的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片供客戶校準(zhǔn)儀器,這些標(biāo)準(zhǔn)片可以追溯到TWI二級標(biāo)準(zhǔn)片。
4. 標(biāo)準(zhǔn)片上標(biāo)明了兩種單位:鐵素體個(gè)數(shù)FN和百分比含量%Fe。
5. 可通過發(fā)貨前設(shè)置修正系數(shù)或用客戶定制的標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器來減少工件幾何形狀(曲率、厚度等)對測量的影響。
6. 不同的校準(zhǔn)信息分別儲(chǔ)存在不同的應(yīng)用程式內(nèi)。
標(biāo)準(zhǔn)配置:FERITSCOPE® FMP30 604-300儀器,背帶,儀器箱,電池組,打印版操作指導(dǎo),CD光盤(含操作說明和USB驅(qū)動(dòng)程序,連接電纜FMP/PC