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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
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德國馬爾Mahr
德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
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美國狄夫斯高 Defelsko
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美國Fluke 福祿克
美國雷泰 Raytek
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美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測(cè)
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國牛津Oxford
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢(shì) Proceq
表面處理層無損檢測(cè)系統(tǒng)
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BYK4570 小口徑60度光澤儀原裝總代理 BYK4570 小口徑60度光澤儀原裝總代理-微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測(cè)量口徑2 x 4 mm，是測(cè)量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統(tǒng)一。額外新增的版本是增強(qiáng)型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術(shù)性能適用于測(cè)量非常低光澤表面的產(chǎn)品。
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菲希爾測(cè)厚儀