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  菲希爾膜厚儀深孔探頭FAI 3.3-150

  菲希爾膜厚儀深孔探頭FAI 3.3-150 Fischer測厚儀深孔探頭FAI 3.3-150 內(nèi)部測量探頭帶微處理芯片。彈性測量系統(tǒng)帶紅寶石尖。適合于直徑 9mm以上的孔。手柄至測量頭的長度為 150mm ,等于管子端部到測量點的大距離。

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  Fischer膜厚儀探頭FKB10現(xiàn)貨代理

  Fischer膜厚儀探頭FKB10現(xiàn)貨代理 德國菲希爾Fischer膜厚儀探頭FKB10測量鋼或鐵基材料（NC / Fe或NF / Fe）上的非導(dǎo)電和非鐵磁性金屬涂層。 特別適用于厚涂層。 粗糙表面的測量精度高于單尖探針。

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  Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選

  Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選介紹： 鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。

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