TP200/TP200B測頭本體SF(標(biāo)準(zhǔn)測力) TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
查看詳細(xì)介紹TP200標(biāo)準(zhǔn)測力測頭模塊A-1207-0001 現(xiàn)貨 TP200包含TP200測頭體(傳感器)和測力模塊 組合1 包含標(biāo)準(zhǔn)測力模塊和測頭體A-1207-0001 組2 包含低測力模塊和測頭體A-1207-0002 TP200傳感器(測頭體)型號(hào)為A-1207-0020
查看詳細(xì)介紹TP200 / TP200B測頭模塊 TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量,即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題
查看詳細(xì)介紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測頭理想性價(jià)比 觸發(fā)式測頭測量離散的點(diǎn),是檢測三維幾何工件的理想選擇。雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng),既可在手動(dòng)坐標(biāo)測量機(jī)上進(jìn)行簡單的性能檢測,也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。
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