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德國fischer DualScope FMP20 涂鍍層測厚儀能夠或許自動(dòng)識(shí)別底材資料而且集成為了兩種丈量辦法，使這個(gè)系列的儀器能夠丈量鋼材和鐵材亦或長短鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。因?yàn)榫奂藘煞N丈量辦法，這個(gè)系列的儀器還能夠或許在一次丈量過程當(dāng)中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），而且分離表現(xiàn)進(jìn)去。
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DualScope MP0R 袖珍式涂鍍層測厚儀為快速且簡便測量而設(shè)計(jì)。DUALSCOPE MPOR USB涂層測厚儀可以準(zhǔn)確地和方便地在2個(gè)液晶顯示器上顯示鍍層厚度的讀數(shù): -塊大的位于前部面板，另一塊位于.上部面板。DUAL SCOPE MPOR USB涂層測厚儀*的符合人類工程學(xué)設(shè)計(jì)的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作。DUALSCOPE MPOR USB涂層測厚儀可以進(jìn)行測量數(shù)據(jù)
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DualScope MP0 袖珍式涂鍍層測厚儀機(jī)型小巧，便捷易于攜帶，操作簡單易于上手，適用范圍廣（可在所有金屬基材上進(jìn)行檢測），儀器適應(yīng)能力強(qiáng)（對(duì)于不同的鍍層下基材能夠自動(dòng)識(shí)別并選擇相應(yīng)的測量方法），精度準(zhǔn)確出色，受基材表面形狀等干擾因素小，享有電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)。
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代理銷售菲希爾測厚儀* 菲希爾DUALSCOPE MP0涂鍍層測厚儀，DUALSCOPE® MP0涂鍍層測厚儀基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測量
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涂鍍層測厚儀DELTASCOPE FMP30功能 ISOSCOPE@ FMP30配 合FTA3.3探頭-測量輕合金邊緣，DELTASCOPE8 FMP30配合雙觸點(diǎn)探頭V7FKB4一測量卡車剎車盤，DUALSCOPE@ FMP40配合FD13探頭一測量各種小零件
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PHASCOPE PMP10 DUPLEX 測量油漆和鍍鋅層 該設(shè)備可通過單次測量精確測定各涂層的厚度，從而節(jié)省時(shí)間和成本。PMP10 特別適用于電鍍或電路板行業(yè)，可用于檢查各種底材上的導(dǎo)電鍍層。PHASCOPE PMP10 DUPLEX與ESG20探頭一起專門開發(fā)用于汽車行業(yè)測量雙相涂層（鋼鐵或鐵上的油漆/鋅）。
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德國Fischer FMP30系列多個(gè)應(yīng)用程序測厚儀 DELTASCOPE® 用于鋼和鐵上的涂鍍層 ISOSCOPE® 用于鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層 DUALSCOPE® 具有自動(dòng)底材識(shí)別并兼具兩種測量方法（磁感應(yīng)和渦流）；DUALSCOPE 可測量鐵/鋼或非鐵磁性金屬以及非導(dǎo)電底材上的多種涂鍍層 非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級(jí)涂鍍層 使用非鐵磁性金屬制成的厚涂層或鋼上的保護(hù)涂鍍層
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測鍍銀厚度儀-Fischer Couloscope CMS2 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法。
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菲希爾渦流測厚儀FMP10搭配探頭FTA-3.3H ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域
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汽車車身油漆厚度測厚儀DualScope MP0 DUALSCOPE® MP0涂鍍層測厚儀基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測量法的結(jié)合（磁感應(yīng)/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)），此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測量
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華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下，單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C
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多功能電解質(zhì)測厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測量鍍層厚度*簡單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
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fischer elektronik測厚儀代理現(xiàn)貨 涂鍍層測厚儀 別名：涂層測厚儀，鍍層厚度測量儀，涂鍍層厚度無損測量儀，手持式涂鍍層測厚儀，表面電鍍層厚度測量儀，油漆涂層測厚儀，便攜式涂層測厚儀，*涂層測厚儀，無損測厚儀，覆層測厚儀。。。
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涂層測厚儀fmp10價(jià)格 FMP10和FMP20體現(xiàn)了全新FMP系列手持式儀器準(zhǔn)確的測量技術(shù)。這些用戶界面友好又堅(jiān)固耐用的儀器配合可更換的探頭使用可以滿足您的測量要求
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德國進(jìn)口測厚儀MINITEST 725/735/745 創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測量的準(zhǔn)確性,測量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用，F(xiàn)N探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò),SIDSP技術(shù)-新技術(shù)，智能數(shù)字化的途層測厚探頭，模擬信號(hào)處理歐譜已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢。
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德國fischer銅箔厚度測試儀 菲希爾能提供多樣的產(chǎn)品種類，包括大量創(chuàng)新性的測試儀器，應(yīng)用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領(lǐng)域。您行業(yè)中各種應(yīng)用都可以在這里一站式地得到完美解決，從而讓您能以高的準(zhǔn)確度獲得可靠的測試結(jié)果。
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Couloscope CMS2 鍍鎳厚度檢測設(shè)備 是根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差的鍍鎳厚度檢測設(shè)備，包括型號(hào)Couloscope CMS2和可以測電位差的CMS2 step，多用于整車廠和檢測機(jī)構(gòu)。
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費(fèi)希爾FISCHERSCOPE MMS PC2國內(nèi)代理 使用一臺(tái)儀器就可同時(shí)完成鍍層厚度測量和材料性能測試。FISCHERSCOPE® MMS® PC2具有數(shù)據(jù)采集和測量數(shù)據(jù)處理能力，是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統(tǒng)。它既可以用來進(jìn)行手動(dòng)的樣品來料檢驗(yàn)
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HelmutFischer gmbh fmp30鐵素體含量測定儀 儀器符合Basler標(biāo)準(zhǔn)和DIN 32514-1標(biāo)準(zhǔn)，適合于現(xiàn)場檢測，可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內(nèi)以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產(chǎn)品內(nèi)的鐵素體含量。
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鐵素體含量檢測儀價(jià)格 篤摯儀器為您提供德國菲希爾鐵素體含量檢測儀fmp30的產(chǎn)品信息，功能參數(shù)，操作說明，價(jià)格貨期等。FISCHER鐵素體檢測儀儀器小巧、便攜，是新一代的產(chǎn)品，更加美觀，實(shí)用。
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